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Photometrische Analyse der Sonneberger Photoplatten

Man schätzt, dass weltweit einige Millionen Beobachtungen auf Photoplatten aus den Anfängen Ende des 19. Jahrhunderts in Harvard und Heidelberg bis in die 90er Jahre des 20. Jahrhundert existieren. Das größte deutsche Archiv befindet sich in der Sternwarte Sonneberg, Thüringen, und enthält etwa 300 000 Platten. Dort wurden seit etwa 1925 zunhemend regelmäßige Beobachtungen ausgewählter Bereiche des nördlichen Sternenhimmels durchgeführt (der so genannte "Felderplan") und seit Mitte der 50er Jahre mit 14 Kameras in jeder klaren Nacht der komplette nördlichen Himmel photographiert ("Himmelsüberwachung" oder "Sky Patrol").

Die Digitalisierung der Plattenarchive ist im vollen Gange. Damit steht das astronomische Erbe von Beobachtungen über einen Zeitraum von mehr als 100 Jahren bald komplett in elektronischer Form zur Verfügung.

The Gaia low-resolution spectrum of UCAC4 600-107181 is compared with two spectral sensitivity curves of Kodak emulsions with Schott filters for photographic photometry.
Maryam Raouph
The Gaia low-resolution spectrum of UCAC4 600-107181 is compared with two spectral sensitivity curves of Kodak emulsions with Schott filters for photographic photometry.
Photo plate from the Sonneberg archive showing the constellation Cygnus. The plate was taken on 9. June 1986 and shows approximately 65 000 stars
A. Schrimpf
Photo plate from the Sonneberg archive showing the constellation Cygnus. The plate was taken on 9. June 1986 and shows approximately 65 000 stars


 

Photoplatten sind nichtlineare Detektoren, näherungsweise mit einer logarithmischen Empfindlichkeit. Die Auswertesoftware moderner CCD Aufnahmen ist nur für lineare Empfindlichkeiten entwickelt worden. Für die Analyse der Photoplatten muss daher die Software an die nichtlinieare Charakteristik angepasst werden. Ziele unserer Forschungen sind:

  • Verbesserung der Qualität der photometrischen Ergebnisses durch Nutzung der neuesten GAIA SEDs
  • Entdeckung transienter Phänomene durch Subtraktion angepasster synthetischer Daten
  • automatische Identifizierung von Kratzern und Markierungen