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Ausstattung

Die Servicegruppe Elektronenmikroskopie verfügt über mehrere Rasterelektronenmikroskope unterschiedlicher Ausstattung.

Tescan Vega 3 SBU.
Das Tescan Vega 3 SBU ist mit einem Everhart-Thornley-Detektor, einem Rückstreuelektronendetektor (BSE) und einem EDX-Detektor (EDAX Element) ausgestattet und erlaubt SEM-Aufnahmen mit einer Auflösung von bestenfalls 3 nm. Letzteres ist abhängig von den Probeneigenschaften. Eingesetzt wird das Mikroskop in Forschung und Lehre.



Zeiss Crossbeam 550 FIB-SEM.
Als zweites SEM betreibt die Serveabteilung ein 2020 angeschafftes FIB-SEM Zeiss Crossbeam 550. Dieses ist mit einer ganzen Reihe an Zusatzgeräten und Detektoren ausgestattet:
Everhart-Thornley-Detektor
Inlens SE-Detektor
BSE-Detektor
Inlens BSE-Detektor
STEM-Detektor
Oxford Ultim-Max-EDX
Oxford Ultim-Extrem-EDX
Platin- und Kohlenstoff-GIS
Schottky-Emitter
Die nominelle Ortsauflösung beträgt 1,27 Å, dieser Wert wird bestenfalls auf dafür hergestellten Standardproben erreicht.

Jeol 7500F Feldemissions-SEM.
2006 wurde als erstes SEM des Fachbereichs dieses SEM angeschafft. Als Besonderheit verfügt es über einen kalten FEG Elektronenemitter und erlaubt damit sehr hohe Auflösung, zudem ist es mit einem Gatan Cryo-Transfersystem ausgestattet.
Ausstattung:
gekühlter FEG-Emitter
Everhart-Thornley-Detektor
YAG-BEI Detektor für Rückstreuelektronen
STEM-Detektor
Kryopräparationssystem
Gatan Alto 2500 Transfersystem
Kühlfalle
Van der Heijden Kühlmobil
IR-Kamera für die Probenkammer.
Die Auflösung beträgt 1 nm. Aktuell ist das System leider wegen eines Fehlers im Vakuumsystem nicht nutzbar (Stand 25.4.25).